Spektrometr rentgenowski FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240

Spektrometr rentgenowski FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240 to profesjonalne urządzenie do badania grubości powłok oraz ich składu stopowego. Mimo tego, że jest to narzędzie wysokiej precyzji, posiada stosunkowo kompaktowe rozmiary. Sprzęt działający w tej technologii nie niszczy próbki, dlatego jest doceniany na przykład w branży jubilerskiej i złotniczej czy elektronicznej (również analizy RoHS). W tym modelu zastosowano lampę rentgenowską typu mikro-focus, która umożliwia przeprowadzenia badania na małych detalach.
Spektrometr Fischerscope X-RAY

Spektrometr rentgenowski FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240 - cena

FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240 to spektrometr rentgenowski najwyższej klasy, co nie wpływa na jego cenę, która pozostaje atrakcyjna, biorąc pod uwagę jakość pomiaru i komfort obsługi, które oferuje urządzenie. Dokładny koszt zakupu jest możliwy do ustalenia po kontakcie z dystrybutorem. Oferta cenowa jest zależna od różnych czynników, na przykład od konieczności przeszkolenia z obsługi etc. Przypominamy, żeby korzystać wyłącznie z modeli pochodzących z pewnych źródeł, ponieważ w przeciwnym wypadku można dostać nieskalibrowane urządzenie.

Sprawdź ofertę spektrometrów!

Spektrometr rentgenowski

Badanie spektrometrem fluorescencji rentgenowskiej

Spektrometria rentgenowska służy do oceny pierwiastków danej substancji i określenia ich stężenie. Badanie odbywa się poprzez sprawdzenie długości fal wtórnego promieniowania rentgenowskiego. Każdy pierwiastek posiada ustaloną liczbę elektronów rozmieszczonych wokół jądra. Promieniowanie wytrąca je, a następnie zapełnia wspomnianym wtórnym promieniowaniem. Wszystkie pierwiastki mają ściśle określone poziomy energetyczne, dlatego urządzenie może porównać ilość emitowanego promieniowania do tych danych. Badanie za pomocą FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240 jest stosunkowo proste, co można zawdzięczać dobrze zaprojektowanemu oprogramowaniu, które umożliwia szybkie otrzymanie raportu z badania. Komora pomiarowa posiada wcięcie w kształcie litery C, umożliwiając pomiar na dużych i płaskich próbkach. Odległość pomiarowa wynosi 0-25 mm. W badaniu sprawdza się grubości powłok galwanicznych, dekoracyjnych, złączy, metali szlachetnych czy zawartości metali w kąpielach galwanicznych.